Đối với các thành phần sapphire được phủ được sử dụng trong các ứng dụng quang học và độ chính xác, mặt cắt kim loại thường được sử dụng để đánh giá độ dày lớp phủ và lớp mực, chất lượng giao diện và tính toàn vẹn tổng thể.
Thử thách là sự chuẩn bị
Lớp phủ mỏng có thể dễ dàng bị sứt mẻ, tách lớp, bong tróc hoặc làm tròn trong quá trình cắt và đánh bóng, khiến mặt cắt cuối cùng khó đo chính xác.
Phương pháp và các bước
Đối với mẫu này, chúng tôi đã sử dụng phương pháp cắt nguội chính xác ở tốc độ thấp và lắp nguội để giảm thiểu hư hỏng cơ học và nhiệt, sau đó là quy trình mài và đánh bóng dần dần:
- Đĩa mài kim cương DiaRe P400 để mài lần đầu
- Đĩa mài mịn POS 9 ừm Huyền phù kim cương đa tinh thể PD-WT
- Vải đánh bóng lụa trắng SC Huyền phù kim cương đa tinh thể 3 um PD-WT
- Vải đánh bóng lụa trắng SC 1 um huyền phù kim cương đa tinh thể PD-WT để đánh bóng mịn
Kết quả và kết luận
Đối với các mẫu được phủ như thế này, bề mặt tốt là chưa đủ - việc bảo toàn cạnh lớp phủ thực sự là điều khiến phép đo độ dày trở nên đáng tin cậy.
#Metallography #Sapphire #CoatingAnalysis #CrossSection #SamplePreparation #OpticalMaterials






